高低温冲击设备HTS200 HTS200高温冲击气流仪用于电子元件 或非其他模块及器件的快速温度循环冲 击，进行温度特性和器件表征测试； HTS200的有效温度范围常温(进气温 度)至+200℃。经长期的多工况验 证，满足各类生产环境和工程环境的 要求。

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温度控制单元 ATC8852接触式快速温变试验机通过接触头与DUT之间直接接触，将DUT的温度(壳温或者结温)调整到目标温度点进行相应的性能测试。同时适用于已焊接的芯片和使用socket的芯片，可以真正做到只控制待测芯片温度而不影响外围电路，排除外围电路引起的不确定性。

温度控制单元 ATC8852接触式高低温试验设备通过接触头与DUT之间直接接触，将DUT的温度(壳温或者结温)调整到目标温度点进行相应的性能测试。同时适用于已焊接的芯片和使用socket的芯片，可以真正做到只控制待测芯片温度而不影响外围电路，排除外围电路引起的不确定性。

ATC8852接触式高低温试验设备通过接触头与DUT之间直接接触，将DUT的温度(壳温或者结温)调整到目标温度点进行相应的性能测试。同时适用于已焊接的芯片和使用socket的芯片，可以真正做到只控制待测芯片温度而不影响外围电路，排除外围电路引起的不确定性。

冷热台温度系统ATC860 高低温冲击机 ThermoTST ATC860通过接触头与 DUT之间直接接触，将DUT的温度(壳温 或者结温)调整到目标温度点进行相应的 性能测试。同时适用于已焊接的芯片和 使用socket 的芯片，可以真正做到只控 制待测芯片温度而不影响外围电路，排 除外围电路引起的不确定性。