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产品分类中冷低温 ATC860冷热冲击机 ThermoTST ATC860通过接触头与 DUT之间直接接触,将DUT的温度(壳温 或者结温)调整到目标温度点进行相应的 性能测试。同时适用于已焊接的芯片和 使用socket 的芯片,可以真正做到只控 制待测芯片温度而不影响外围电路,排 除外围电路引起的不确定性。
更新时间:2026-10-20
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中冷低温 冷热台温度系统ATC860冷热冲击机 ThermoTST ATC860通过接触头与 DUT之间直接接触,将DUT的温度(壳温 或者结温)调整到目标温度点进行相应的 性能测试。同时适用于已焊接的芯片和 使用socket 的芯片,可以真正做到只控 制待测芯片温度而不影响外围电路,排 除外围电路引起的不确定性。
更新时间:2026-10-20
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低环境散热 ATC860E桌面式快速温变试验机 ThermoTST ATC860E通过接触头与 DUT之间直接接触,将DUT的温度(壳温 或者结温)调整到目标温度点进行相应的 性能测试。同时适用于已焊接的芯片和 使用socket 的芯片,可以真正做到只控 制待测芯片温度而不影响外围电路,排 除外围电路引起的不确定性。
更新时间:2026-10-20
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成都中冷低温 ATC860E桌面式快速温变试验机 ThermoTST ATC860E通过接触头与 DUT之间直接接触,将DUT的温度(壳温 或者结温)调整到目标温度点进行相应的 性能测试。同时适用于已焊接的芯片和 使用socket 的芯片,可以真正做到只控 制待测芯片温度而不影响外围电路,排 除外围电路引起的不确定性。
更新时间:2026-10-20
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ATC860E桌面式快速温变试验机 ThermoTST ATC860E通过接触头与 DUT之间直接接触,将DUT的温度(壳温 或者结温)调整到目标温度点进行相应的 性能测试。同时适用于已焊接的芯片和 使用socket 的芯片,可以真正做到只控 制待测芯片温度而不影响外围电路,排 除外围电路引起的不确定性。
更新时间:2026-10-20
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接触式高低温冲击设备ATC860PLUS 热流仪 ThermoTST ATC860 PLUS通过接触头 与DUT 之间直接接触,将DUT的温度(壳 温或者结温)调整到目标温度点进行相应 的性能测试。同时适用于已焊接的芯片 和使用socket 的芯片,可以真正做到只 控制待测芯片温度而不影响外围电路, 排除外围电路引起的不确定性。
更新时间:2026-10-20
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