绝缘电阻劣化（离子迁移CAF）试验箱原理为印刷电路板上给予一固 定的直流电压，经过长时间的测试(1～1000小时)并观察线路是否有瞬间短 路的现象发生，并记录电阻值变化状况，故又叫做CAF试验，绝缘阻力电阻试 验，我们将其统称为绝缘劣化试验，可进行BHAST 试验。在高温高湿条件 下，对电子零部件以及印刷电路板的绝缘部分测试电阻值，也能够进行高效率 的绝缘可靠性评估。

绝缘电阻劣化（离子迁移CAF）试验设备原理为印刷电路板上给予一固 定的直流电压，经过长时间的测试(1～1000小时)并观察线路是否有瞬间短 路的现象发生，并记录电阻值变化状况，故又叫做CAF试验，绝缘阻力电阻试 验，我们将其统称为绝缘劣化试验，可进行BHAST 试验。在高温高湿条件 下，对电子零部件以及印刷电路板的绝缘部分测试电阻值，也能够进行高效率 的绝缘可靠性评估。

绝缘电阻劣化（离子迁移CAF）是一种信赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固 定的直流电压，经过长时间的测试(1～1000小时)并观察线路是否有瞬间短 路的现象发生，并记录电阻值变化状况，故又叫做CAF试验，绝缘阻力电阻试 验，我们将其统称为绝缘劣化试验，可进行BHAST 试验。在高温高湿条件 下，对电子零部件以及印刷电路板的绝缘部分测试电阻值，也能够进行高效率 的绝缘可靠性评估。