HAST高低温恒温恒湿试验箱设备适用于产 品零部件及材料在高温、低温(交 变)循环变化的情况下，检验其可靠 性各项性能指标的仪器设备。高温时 可测试产品零件、材料可能发生软 化、效能降低、特性改变、潜在破 坏、氧化等现象。在低温时可测试产 品零件、材料可能发生龟裂、脆化、 可动部卡死、特性改变等现象。

HAST高低温恒温恒湿试验箱适用于产 品零部件及材料在高温、低温(交 变)循环变化的情况下，检验其可靠 性各项性能指标的仪器设备。高温时 可测试产品零件、材料可能发生软 化、效能降低、特性改变、潜在破 坏、氧化等现象。在低温时可测试产 品零件、材料可能发生龟裂、脆化、 可动部卡死、特性改变等现象。

高低温恒温恒湿试验箱适用于产 品零部件及材料在高温、低温(交 变)循环变化的情况下，检验其可靠 性各项性能指标的仪器设备。高温时 可测试产品零件、材料可能发生软 化、效能降低、特性改变、潜在破 坏、氧化等现象。在低温时可测试产 品零件、材料可能发生龟裂、脆化、 可动部卡死、特性改变等现象。

绝缘电阻劣化（离子迁移CAF）试验箱原理为印刷电路板上给予一固 定的直流电压，经过长时间的测试(1～1000小时)并观察线路是否有瞬间短 路的现象发生，并记录电阻值变化状况，故又叫做CAF试验，绝缘阻力电阻试 验，我们将其统称为绝缘劣化试验，可进行BHAST 试验。在高温高湿条件 下，对电子零部件以及印刷电路板的绝缘部分测试电阻值，也能够进行高效率 的绝缘可靠性评估。

绝缘电阻劣化（离子迁移CAF）试验设备原理为印刷电路板上给予一固 定的直流电压，经过长时间的测试(1～1000小时)并观察线路是否有瞬间短 路的现象发生，并记录电阻值变化状况，故又叫做CAF试验，绝缘阻力电阻试 验，我们将其统称为绝缘劣化试验，可进行BHAST 试验。在高温高湿条件 下，对电子零部件以及印刷电路板的绝缘部分测试电阻值，也能够进行高效率 的绝缘可靠性评估。

绝缘电阻劣化（离子迁移CAF）是一种信赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固 定的直流电压，经过长时间的测试(1～1000小时)并观察线路是否有瞬间短 路的现象发生，并记录电阻值变化状况，故又叫做CAF试验，绝缘阻力电阻试 验，我们将其统称为绝缘劣化试验，可进行BHAST 试验。在高温高湿条件 下，对电子零部件以及印刷电路板的绝缘部分测试电阻值，也能够进行高效率 的绝缘可靠性评估。