绝缘电阻劣化（离子迁移CAF）试验设备原理为印刷电路板上给予一固 定的直流电压，经过长时间的测试(1～1000小时)并观察线路是否有瞬间短 路的现象发生，并记录电阻值变化状况，故又叫做CAF试验，绝缘阻力电阻试 验，我们将其统称为绝缘劣化试验，可进行BHAST 试验。在高温高湿条件 下，对电子零部件以及印刷电路板的绝缘部分测试电阻值，也能够进行高效率 的绝缘可靠性评估。

绝缘电阻劣化（离子迁移CAF）试验设备，原理为印刷电路板上给予一固 定的直流电压，经过长时间的测试(1～1000小时)并观察线路是否有瞬间短 路的现象发生，并记录电阻值变化状况，故又叫做CAF试验，绝缘阻力电阻试 验，我们将其统称为绝缘劣化试验，可进行BHAST 试验。在高温高湿条件 下，对电子零部件以及印刷电路板的绝缘部分测试电阻值，也能够进行高效率 的绝缘可靠性评估。

绝缘电阻劣化（离子迁移CAF）试验设备

PCB、焊料、助焊剂、涂层材料等， GBA、DSP等 ，IC封装、电容器、连接器 等电子器件及材料绝缘材料吸湿特性测试评估。

特点

· 高机能：采用驱动计测， 测试时焊接工序大幅减少

·软件设计简单明了，直观易操 作

·远程监控功能，可监控试验过 程。

· 便利性高：构造装着脱落式、 易进行保养交换。可同时试验停 止等联动装置功能，系统构成灵 活。

· 测试自检功能：点检、校正方 便。

·设计精巧，不受场所限制，易 移动。

· 可靠性高：配有CF卡，以防设 备故障数据丢失。以UPS作为系 统的支撑，保证试验的安全继续 进行。

绝缘电阻劣化（离子迁移CAF）评估系统

测试标准

·JPCA-ET01-2001