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  • 三温Chuck高低温晶圆盘

    三温Chuck高低温晶圆盘,晶圆盘系统用于半导体晶圆的表征测试、建模、工艺开发、设计调试,去BUG或IC故障分析,具有所有主要分析探针台集成所需的性能和多功能性,

    更新时间:2026-03-19
    产品型号:
    浏览量:295
  • 高低温晶圆盘三温Chuck

    高低温晶圆盘三温Chuck,晶圆盘系统用于半导体晶圆的表征测试、建模、工艺开发、设计调试,去BUG或IC故障分析,具有所有主要分析探针台集成所需的性能和多功能性。

    更新时间:2026-03-19
    产品型号:
    浏览量:238
  • ATC-860Chuckzonglen高低温晶圆盘 三温Chuck

    zonglen高低温晶圆盘 三温Chuck,晶圆盘系统用于半导体晶圆的表征测试、建模、工艺开发、设计调试,去BUG或IC故障分析,具有所有主要分析探针台集成所需的性能和多功能性。

    更新时间:2026-03-19
    产品型号:ATC-860Chuck
    浏览量:321
  • zonglen高低温载物台CHUCK

    zonglen高低温载物台CHUCK,是一款温度范围为-65℃到200℃气冷型高低温卡盘系统,主要由气冷高低温卡盘和气冷温控器组成。系统具有宽泛的温度控制范围、紧凑的冷却套件、纯空气制冷、高温度精度与稳定性控制等特性,广泛应用于八英寸及以下尺寸的半导体器件或晶圆的变温电学性能关键参数分析,如:功率器件建模测试、晶圆可靠性评估、生产型变温检测,变温光电测试、射频变温测试等。

    更新时间:2026-03-19
    产品型号:
    浏览量:362
  • zonglen高低温载物台Thermal CHUCK测试

    zonglen高低温载物台Thermal CHUCK测试,晶圆盘系统用于半导体晶圆的表征测试、建模、工艺开发、设计调试,去BUG或IC故障分析,具有所有主要分析探针台集成所需的性能和多功能性。

    更新时间:2026-03-19
    产品型号:
    浏览量:207
  • ATC-860Chuckzonglen高低温晶圆盘Thermal Chuck

    zonglen高低温晶圆盘Thermal Chuck,晶圆盘系统用于半导体晶圆的表征测试、建模、工艺开发、设计调试,去BUG或IC故障分析,具有所有主要分析探针台集成所需的性能和多功能性。

    更新时间:2026-03-18
    产品型号:ATC-860Chuck
    浏览量:572
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