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产品分类Temptronic ThermoChuck 晶圆测试 升级改造,晶圆盘系统用于半导体晶圆的表征测试、建模、工艺开发、设计调试,去BUG或IC故障分析,具有所有主要分析探针台集成所需的性能和多功能性,三温Chuck高低温晶圆盘。
更新时间:2026-03-19
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Temptronic ThermoChuck 晶圆测试 维修升级,晶圆盘系统用于半导体晶圆的表征测试、建模、工艺开发、设计调试,去BUG或IC故障分析,具有所有主要分析探针台集成所需的性能和多功能性,三温Chuck高低温晶圆盘。
更新时间:2026-03-19
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卡盘zonglen三温Chuck探针台卡盘,晶圆盘系统用于半导体晶圆的表征测试、建模、工艺开发、设计调试,去BUG或IC故障分析,具有所有主要分析探针台集成所需的性能和多功能性,三温Chuck高低温晶圆盘。
更新时间:2026-03-19
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zonglen三温Chuck探针台卡盘,晶圆盘系统用于半导体晶圆的表征测试、建模、工艺开发、设计调试,去BUG或IC故障分析,具有所有主要分析探针台集成所需的性能和多功能性,三温Chuck高低温晶圆盘。
更新时间:2026-03-19
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zonglen三温Chuck高低温晶圆盘,晶圆盘系统用于半导体晶圆的表征测试、建模、工艺开发、设计调试,去BUG或IC故障分析,具有所有主要分析探针台集成所需的性能和多功能性,三温Chuck高低温晶圆盘。
更新时间:2026-03-19
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三温Chuck晶圆盘,晶圆盘系统用于半导体晶圆的表征测试、建模、工艺开发、设计调试,去BUG或IC故障分析,具有所有主要分析探针台集成所需的性能和多功能性。
更新时间:2026-03-19
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