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  • 快速温变控温卡盘Thermochuck

    快速温变控温卡盘Thermochuck,晶圆盘系统用于半导体晶圆的表征测试、建模、工艺开发、设计调试,去BUG或IC故障分析,具有所有主要分析探针台集成所需的性能和多功能性,三温Chuck高低温晶圆盘。

    更新时间:2026-04-27
    产品型号:
    浏览量:62
  • Thermochuck热控卡盘

    Thermochuck热控卡盘,晶圆盘系统用于半导体晶圆的表征测试、建模、工艺开发、设计调试,去BUG或IC故障分析,具有所有主要分析探针台集成所需的性能和多功能性,三温Chuck高低温晶圆盘。

    更新时间:2026-04-27
    产品型号:
    浏览量:46
  • 三温Chuck探针台卡盘高低温卡盘

    三温Chuck探针台卡盘高低温卡盘,晶圆盘系统用于半导体晶圆的表征测试、建模、工艺开发、设计调试,去BUG或IC故障分析,具有所有主要分析探针台集成所需的性能和多功能性,三温Chuck高低温晶圆盘。

    更新时间:2026-04-27
    产品型号:
    浏览量:65
  • ThermoChuck高低温载物台

    ThermoChuck高低温载物台,晶圆盘系统用于半导体晶圆的表征测试、建模、工艺开发、设计调试,去BUG或IC故障分析,具有所有主要分析探针台集成所需的性能和多功能性,三温Chuck高低温晶圆盘。

    更新时间:2026-04-27
    产品型号:
    浏览量:72
  • ThermoChuck高低温CHUCK

    ThermoChuck高低温CHUCK,晶圆盘系统用于半导体晶圆的表征测试、建模、工艺开发、设计调试,去BUG或IC故障分析,具有所有主要分析探针台集成所需的性能和多功能性,三温Chuck高低温晶圆盘。

    更新时间:2026-04-27
    产品型号:
    浏览量:45
  • ThermoChuck高低温Plate

    ThermoChuck高低温Plate,晶圆盘系统用于半导体晶圆的表征测试、建模、工艺开发、设计调试,去BUG或IC故障分析,具有所有主要分析探针台集成所需的性能和多功能性,三温Chuck高低温晶圆盘。

    更新时间:2026-04-27
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    浏览量:61
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