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  • OEM集成 接触式冷热台温度系统ATC860PLUS

    OEM集成 接触式冷热台温度系统ATC860PLUS ThermoTST ATC860 PLUS通过接触头 与DUT 之间直接接触,将DUT的温度(壳 温或者结温)调整到目标温度点进行相应 的性能测试。同时适用于已焊接的芯片 和使用socket 的芯片,可以真正做到只 控制待测芯片温度而不影响外围电路, 排除外围电路引起的不确定性。

    更新时间:2026-05-14
    产品型号:
    浏览量:45
  • 接触式冷热台温度系统ATC860PLUS

    接触式冷热台温度系统ATC860PLUS ThermoTST ATC860 PLUS通过接触头 与DUT 之间直接接触,将DUT的温度(壳 温或者结温)调整到目标温度点进行相应 的性能测试。同时适用于已焊接的芯片 和使用socket 的芯片,可以真正做到只 控制待测芯片温度而不影响外围电路, 排除外围电路引起的不确定性。

    更新时间:2026-05-14
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  • thermoplate冲击机ATC860PLUS接触式

    thermoplate冲击机ATC860PLUS接触式 ThermoTST ATC860 PLUS通过接触头 与DUT 之间直接接触,将DUT的温度(壳 温或者结温)调整到目标温度点进行相应 的性能测试。同时适用于已焊接的芯片 和使用socket 的芯片,可以真正做到只 控制待测芯片温度而不影响外围电路, 排除外围电路引起的不确定性。

    更新时间:2026-05-14
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    浏览量:54
  • thermoplate ATC860接触式三温测试台

    thermoplate ATC860接触式三温测试台 ThermoTST ATC860通过接触头与 DUT之间直接接触,将DUT的温度(壳温 或者结温)调整到目标温度点进行相应的 性能测试。同时适用于已焊接的芯片和 使用socket 的芯片,可以真正做到只控 制待测芯片温度而不影响外围电路,排 除外围电路引起的不确定性。

    更新时间:2026-05-14
    产品型号:
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  • 接触式高低温冲击机ATC860 三温测试台

    接触式高低温冲击机ATC860 三温测试台 ThermoTST ATC860通过接触头与 DUT之间直接接触,将DUT的温度(壳温 或者结温)调整到目标温度点进行相应的 性能测试。同时适用于已焊接的芯片和 使用socket 的芯片,可以真正做到只控 制待测芯片温度而不影响外围电路,排 除外围电路引起的不确定性。

    更新时间:2026-05-14
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  • IC测试 ATC860接触式冷热冲击机

    IC测试 ATC860接触式冷热冲击机 ThermoTST ATC860通过接触头与 DUT之间直接接触,将DUT的温度(壳温 或者结温)调整到目标温度点进行相应的 性能测试。同时适用于已焊接的芯片和 使用socket 的芯片,可以真正做到只控 制待测芯片温度而不影响外围电路,排 除外围电路引起的不确定性。

    更新时间:2026-05-14
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