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  • 接触式高低温冲击机ATC840 PLUS 三温测试台

    接触式高低温冲击机ATC840 PLUS 三温测试台 ThermoTST ATC860 PLUS通过接触头 与DUT 之间直接接触,将DUT的温度(壳 温或者结温)调整到目标温度点进行相应 的性能测试。同时适用于已焊接的芯片 和使用socket 的芯片,可以真正做到只 控制待测芯片温度而不影响外围电路, 排除外围电路引起的不确定性。

    更新时间:2026-10-20
    产品型号:
    浏览量:134
  • 接触式高低温冲击机ATC840 PLUS

    接触式高低温冲击机ATC840 PLUS ThermoTST ATC860 PLUS通过接触头 与DUT 之间直接接触,将DUT的温度(壳 温或者结温)调整到目标温度点进行相应 的性能测试。同时适用于已焊接的芯片 和使用socket 的芯片,可以真正做到只 控制待测芯片温度而不影响外围电路, 排除外围电路引起的不确定性。

    更新时间:2026-10-20
    产品型号:
    浏览量:140
  • 低温冷却机代换 ATC840冷热冲击机

    低温冷却机代换 ATC840冷热冲击机 ThermoTST ATC840通过接触头与 DUT之间直接接触,将DUT的温度(壳温 或者结温)调整到目标温度点进行相应的 性能测试。同时适用于已焊接的芯片和 使用socket 的芯片,可以真正做到只控 制待测芯片温度而不影响外围电路,排 除外围电路引起的不确定性。

    更新时间:2026-10-20
    产品型号:
    浏览量:136
  • 高低温测试箱应用 ATC840冷热冲击机

    高低温测试箱应用 ATC840冷热冲击机 ThermoTST ATC840通过接触头与 DUT之间直接接触,将DUT的温度(壳温 或者结温)调整到目标温度点进行相应的 性能测试。同时适用于已焊接的芯片和 使用socket 的芯片,可以真正做到只控 制待测芯片温度而不影响外围电路,排 除外围电路引起的不确定性。

    更新时间:2026-10-20
    产品型号:
    浏览量:121
  • ATC840高低温循环冲击机

    ATC840高低温循环冲击机 ThermoTST ATC840通过接触头与 DUT之间直接接触,将DUT的温度(壳温 或者结温)调整到目标温度点进行相应的 性能测试。同时适用于已焊接的芯片和 使用socket 的芯片,可以真正做到只控 制待测芯片温度而不影响外围电路,排 除外围电路引起的不确定性。

    更新时间:2026-10-20
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  • 桌面式快速温变试验机 ATC800接触式

    桌面式快速温变试验机 ATC800接触式 ThermoTST ATC800通过接触头与 DUT之间直接接触,将DUT的温度(壳温 或者结温)调整到目标温度点进行相应的 性能测试。同时适用于已焊接的芯片和 使用socket 的芯片,可以真正做到只控 制待测芯片温度而不影响外围电路,排 除外围电路引起的不确定性。

    更新时间:2026-10-20
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