ATC840高低温循环冲击机
ThermoTST ATC840通过接触头与 DUT之间直接接触，将DUT的温度(壳温 或者结温)调整到目标温度点进行相应的 性能测试。同时适用于已焊接的芯片和 使用socket 的芯片，可以真正做到只控 制待测芯片温度而不影响外围电路，排 除外围电路引起的不确定性。

ATC840高低温循环冲击机

ThermoTST        ATC840通过接触头与 DUT之间直接接触，将DUT的温度(壳温 或者结温)调整到目标温度点进行相应的 性能测试。同时适用于已焊接的芯片和 使用socket 的芯片，可以真正做到只控 制待测芯片温度而不影响外围电路，排 除外围电路引起的不确定性。

ATC840高低温循环冲击机

温度控制单元具有高功率和高灵活性的特点，可以通过定制来适应不同的芯片

温度控制单元具有高功率和高灵活性的特点，可以通过定制来适应不同的芯片 封装和接口。该系统允许对各种功率、尺寸和类型的芯片施加温度，无论是使 用 Socket  还是已经焊接到PCB 上的芯片。

特点

· 温度范围：-45℃~ +175℃

· 温度稳定性±0.5℃

· 触摸屏操作，人机交互界 面

· 支持DUT温度控制

· 桌面式设计，低噪音、低 震动、低环境散热

· 温度波动小

· 低温环境测试无冷凝

应用

适用于IC特性、测试和失效分析：

ATE,SLT和工作台

高低温测试箱/低温冷却机代换 OEM集成

·主机：可根据具体需求选取合适的温度区间这是整个控制系统的核心。

·测试头前端：实现测试头和待测芯片的连接以及能量传导。测试架一方 面起到固定的作用另一方面也适用于没有socket 器件的测试。