BHAST温湿度偏压高加速应力测试 试验箱，bHAST温湿度偏压高加速应力测试（Bias Highly Accelerated Stress Test）bHAST测试为带电的高温高湿条件下的可靠性（参考与执行试验标准:JESD22-A110）。该测试的目的就是为了让器件加速腐蚀，看芯片的工作状态。施加电压的原则如下：测试芯片所有供电要接上，处于工作状态下的最小功耗。

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BHAST温湿度偏压高加速应力测试 试验箱

bHAST温湿度偏压高加速应力测试（Bias Highly Accelerated Stress Test）bHAST测试为带电的高温高湿条件下的可靠性（参考与执行试验标准:JESD22-A110）。该测试的目的就是为了让器件加速腐蚀，看芯片的工作状态。施加电压的原则如下：测试芯片所有供电要接上，处于工作状态下的最小功耗。

BHAST温湿度偏压高加速应力测试 试验箱

测试时间

通常会去做130摄氏度的测试，时间比较快，测试结果也可以得到认可。芯片测试数量为：（3个Lot，每个lot最少25颗）

带电压拉偏 ，遵循得原则：

（1） 所有电源上电，电压：推荐操作范围电压（Maximum Recommended Operating Conditions）
（2） 芯片、材料功耗最小（数字部分不翻转、输入晶振短接、其他降功耗方法）

（3） 输入管脚在输入电压允许范围内拉高。
（4） 其他管脚，如时钟端、复位端、输出管脚在输出范围内随机拉高或者拉低

带电压拉偏 ，遵循得原则：

（1） 所有电源上电，电压：推荐操作范围电压（Maximum Recommended Operating Conditions）
（2） 芯片、材料功耗最小（数字部分不翻转、输入晶振短接、其他降功耗方法）

（3） 输入管脚在输入电压允许范围内拉高。
（4） 其他管脚，如时钟端、复位端、输出管脚在输出范围内随机拉高或者拉低

带电压拉偏 ，遵循得原则：

（1） 所有电源上电，电压：推荐操作范围电压（Maximum Recommended Operating Conditions）
（2） 芯片、材料功耗最小（数字部分不翻转、输入晶振短接、其他降功耗方法）

（3） 输入管脚在输入电压允许范围内拉高。
（4） 其他管脚，如时钟端、复位端、输出管脚在输出范围内随机拉高或者拉低