RF射频芯片的HAST测试 试验箱，RF射频芯片的HAST测试（Highly Accelerated Stress Test，高加速应力测试）是一种用于评估芯片在低温环境条件下性能和可靠性的测试方法。

IGBT-HAST试验箱 高加速老化,是用于调查分析何时出现电子元器件和机械零件的摩耗和使用寿命的问题的试验设备,其目的是提高环境应力与工作应力、加快试验过程缩短产品或系统的寿命试验时间。 用于 PCB、LCD Board、电池、电容、电阻、IC 半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件及其它电子零件之高温

IGBT-HAST测试箱,HAST CHAMBER 又称为超加速寿命试验机,是用于调查分析何时出现电子元器件和机械零件的摩耗和使用寿命的问题的试验设备,其目的是提高环境应力与工作应力、加快试验过程缩短产品或系统的寿命试验时间。

BHAST温湿度偏压高加速应力测试 试验箱，bHAST温湿度偏压高加速应力测试（Bias Highly Accelerated Stress Test）bHAST测试为带电的高温高湿条件下的可靠性（参考与执行试验标准:JESD22-A110）。该测试的目的就是为了让器件加速腐蚀，看芯片的工作状态。施加电压的原则如下：测试芯片所有供电要接上，处于工作状态下的最小功耗。

HAST高加速压力测试系统,高加速应力测试（HAST）结合了高温、高湿度、高压和时间，以测量元件的可靠性，无论是否具有电偏置。HAST测试以受控的方式加速了更传统测试的压力。它本质上是一种腐蚀失效测试。腐蚀型故障加速，在较短的时间内发现包装密封，材料和接头等缺陷。

BHAST温湿度偏压寿命实验箱,用于 PCB、LCD Board、电池、电容、电阻、IC 半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件及其它电子零件之高温、高湿、高压等信赖性试验等行业。