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  • 冷热冲击试验箱 导通电阻测试系统方案

    冷热冲击试验箱 导通电阻测试系统方案,本系统针对 PCB 通路电阻测试中阻值低、测试精度高的要求,克服了手工测量过程中可能出现的干扰、不稳定等技术问题,实现了对 PCB 多通道低阻测试的解决方案。本系统不仅可以很好地替代平时的手工操作,而且还可以对放置于环境试验箱内做高低温试验的 PCB 板进行长期在线监测,从而很方便的观察 PCB 板通路在不同环境下的阻值变化情况。

    更新时间:2026-03-19
    产品型号:
    浏览量:236
  • Temptronic ThermoChuck 晶圆测试 升级改造

    Temptronic ThermoChuck 晶圆测试 升级改造,晶圆盘系统用于半导体晶圆的表征测试、建模、工艺开发、设计调试,去BUG或IC故障分析,具有所有主要分析探针台集成所需的性能和多功能性,三温Chuck高低温晶圆盘。

    更新时间:2026-03-19
    产品型号:
    浏览量:218
  • Temptronic ThermoChuck 晶圆测试 维修升级

    Temptronic ThermoChuck 晶圆测试 维修升级,晶圆盘系统用于半导体晶圆的表征测试、建模、工艺开发、设计调试,去BUG或IC故障分析,具有所有主要分析探针台集成所需的性能和多功能性,三温Chuck高低温晶圆盘。

    更新时间:2026-03-19
    产品型号:
    浏览量:300
  • 卡盘zonglen三温Chuck探针台卡盘

    卡盘zonglen三温Chuck探针台卡盘,晶圆盘系统用于半导体晶圆的表征测试、建模、工艺开发、设计调试,去BUG或IC故障分析,具有所有主要分析探针台集成所需的性能和多功能性,三温Chuck高低温晶圆盘。

    更新时间:2026-03-19
    产品型号:
    浏览量:231
  • zonglen三温Chuck探针台卡盘

    zonglen三温Chuck探针台卡盘,晶圆盘系统用于半导体晶圆的表征测试、建模、工艺开发、设计调试,去BUG或IC故障分析,具有所有主要分析探针台集成所需的性能和多功能性,三温Chuck高低温晶圆盘。

    更新时间:2026-03-19
    产品型号:
    浏览量:271
  • zonglen三温Chuck高低温晶圆盘

    zonglen三温Chuck高低温晶圆盘,晶圆盘系统用于半导体晶圆的表征测试、建模、工艺开发、设计调试,去BUG或IC故障分析,具有所有主要分析探针台集成所需的性能和多功能性,三温Chuck高低温晶圆盘。

    更新时间:2026-03-19
    产品型号:
    浏览量:390
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