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  • BiasHAST高加速老化试验箱

    BiasHAST高加速老化试验箱,评估系统,绝缘电阻劣化评估系统是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压,经过长时间的测试(1~1000小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生,并记录电阻值变化状况,故又叫做CAF试验,绝缘阻力电阻试验,我们将其统称为绝缘劣化试验,可进行BHAST试验。

    更新时间:2026-07-15
    产品型号:
    浏览量:104
  • BiasHAST偏压老化测试系统老化试验箱

    BiasHAST偏压老化测试系统老化试验箱,评估系统,绝缘电阻劣化评估系统是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压,经过长时间的测试(1~1000小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生,并记录电阻值变化状况,故又叫做CAF试验,绝缘阻力电阻试验,我们将其统称为绝缘劣化试验,可进行BHAST试验。

    更新时间:2026-07-15
    产品型号:
    浏览量:110
  • 半导体芯片BiasHAST测试偏压老化测试试验箱

    半导体芯片BiasHAST测试偏压老化测试试验箱,评估系统,绝缘电阻劣化评估系统是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压,经过长时间的测试(1~1000小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生,并记录电阻值变化状况,故又叫做CAF试验,绝缘阻力电阻试验,我们将其统称为绝缘劣化试验,可进行BHAST试验。

    更新时间:2026-07-15
    产品型号:
    浏览量:99
  • HAST加速模拟老化测试箱

    HAST加速模拟老化测试箱,评估系统,绝缘电阻劣化评估系统是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压,经过长时间的测试(1~1000小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生,并记录电阻值变化状况,故又叫做CAF试验,绝缘阻力电阻试验,我们将其统称为绝缘劣化试验,可进行BHAST试验。

    更新时间:2026-07-15
    产品型号:
    浏览量:91
  • RF射频芯片HAST测试老化试验箱

    RF射频芯片HAST测试老化试验箱,评估系统,绝缘电阻劣化评估系统是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压,经过长时间的测试(1~1000小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生,并记录电阻值变化状况,故又叫做CAF试验,绝缘阻力电阻试验,我们将其统称为绝缘劣化试验,可进行BHAST试验。

    更新时间:2026-07-15
    产品型号:
    浏览量:98
  • HAST高加速压力测试系统老化试验箱

    HAST高加速压力测试系统老化试验箱,评估系统,绝缘电阻劣化评估系统是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压,经过长时间的测试(1~1000小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生,并记录电阻值变化状况,故又叫做CAF试验,绝缘阻力电阻试验,我们将其统称为绝缘劣化试验,可进行BHAST试验。

    更新时间:2026-07-15
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