18080435591

产品中心

Product Center
  • ECM-HAST HAST高加速寿命老化试验箱

    ECM-HAST HAST高加速寿命老化试验箱是主要用于评估在湿度环境下产品或者材料的可靠性,是通 过在高度受控的压力容器内设定和创建温度、湿度、压力的各种条件来完成的,这 些条件加速了水分穿透外部保护性塑料包装并将这些应力条件施加到材料本体或者 产品内部。

    更新时间:2026-07-15
    产品型号:
    浏览量:178
  • 偏压老化测试 HAST高加速寿命试验箱

    偏压老化测试 HAST高加速寿命试验箱是主要用于评估在湿度环境下产品或者材料的可靠性,是通 过在高度受控的压力容器内设定和创建温度、湿度、压力的各种条件来完成的,这 些条件加速了水分穿透外部保护性塑料包装并将这些应力条件施加到材料本体或者 产品内部。

    更新时间:2026-07-15
    产品型号:
    浏览量:184
  • 材料可靠性测试 HAST高加速寿命试验箱

    材料可靠性测试 HAST高加速寿命试验箱是主要用于评估在湿度环境下产品或者材料的可靠性,是通 过在高度受控的压力容器内设定和创建温度、湿度、压力的各种条件来完成的,这 些条件加速了水分穿透外部保护性塑料包装并将这些应力条件施加到材料本体或者 产品内部。

    更新时间:2026-07-15
    产品型号:
    浏览量:175
  • ZONGLEN ATC800接触式高低温冲击机

    ZONGLEN ATC800接触式高低温冲击机 ThermoTST ATC800通过接触头与 DUT之间直接接触,将DUT的温度(壳温 或者结温)调整到目标温度点进行相应的 性能测试。同时适用于已焊接的芯片和 使用socket 的芯片,可以真正做到只控 制待测芯片温度而不影响外围电路,排除外围电路引起的不确定性。

    更新时间:2026-07-15
    产品型号:
    浏览量:163
  • 成都中冷低温 ATC800接触式高低温冲击机

    成都中冷低温 ATC800接触式高低温冲击机 ThermoTST ATC800通过接触头与 DUT之间直接接触,将DUT的温度(壳温 或者结温)调整到目标温度点进行相应的 性能测试。同时适用于已焊接的芯片和 使用socket 的芯片,可以真正做到只控 制待测芯片温度而不影响外围电路,排除外围电路引起的不确定性。

    更新时间:2026-07-15
    产品型号:
    浏览量:147
  • OEM集成应用 ATC800接触式高低温冲击机

    OEM集成应用 ATC800接触式高低温冲击机 ThermoTST ATC800通过接触头与 DUT之间直接接触,将DUT的温度(壳温 或者结温)调整到目标温度点进行相应的 性能测试。同时适用于已焊接的芯片和 使用socket 的芯片,可以真正做到只控 制待测芯片温度而不影响外围电路,排除外围电路引起的不确定性。

    更新时间:2026-07-15
    产品型号:
    浏览量:143
共 1196 条记录,当前 50 / 200 页  首页  上一页  下一页  末页  跳转到第页 
全国服务热线:

028-87870928

快速的售前售后服务响应机制
关注
公众号

版权所有© 2026 成都中冷低温科技有限公司 All Rights Reserved  蜀ICP备19040265号-10

技术支持:化工仪器网  管理登录  sitemap.xml

关注

联系

18080435591

联系
顶部