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  • zonglenB-HAST高加速老化 偏压老化测试系统

    B-HAST高加速老化 偏压老化测试系统,评估系统,绝缘电阻劣化评估系统是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压,经过长时间的测试(1~1000小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生,并记录电阻值变化状况,故又叫做CAF试验,绝缘阻力电阻试验,我们将其统称为绝缘劣化试验,可进行BHAST试验。

    更新时间:2026-01-12
    产品型号:zonglen
    浏览量:194
  • CAF-HAST绝缘电阻劣化系统高加速寿命老化

    CAF-HAST绝缘电阻劣化系统高加速寿命老化,评估系统,绝缘电阻劣化评估系统是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压,经过长时间的测试(1~1000小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生,并记录电阻值变化状况,故又叫做CAF试验,绝缘阻力电阻试验,我们将其统称为绝缘劣化试验,可进行BHAST试验。

    更新时间:2026-01-12
    产品型号:
    浏览量:229
  • ECM-HAST绝缘电阻劣化系统高加速寿命老化

    ECM-HAST绝缘电阻劣化系统高加速寿命老化,评估系统,绝缘电阻劣化评估系统是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压,经过长时间的测试(1~1000小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生,并记录电阻值变化状况,故又叫做CAF试验,绝缘阻力电阻试验,我们将其统称为绝缘劣化试验,可进行BHAST试验。

    更新时间:2026-01-12
    产品型号:
    浏览量:125
  • HAST/B-HAST高加速寿命老化测试系统

    HAST/B-HAST高加速寿命老化测试系统,评估系统,绝缘电阻劣化评估系统是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压,经过长时间的测试(1~1000小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生,并记录电阻值变化状况,故又叫做CAF试验,绝缘阻力电阻试验,我们将其统称为绝缘劣化试验,可进行BHAST试验。

    更新时间:2026-01-12
    产品型号:
    浏览量:292
  • 热流仪芯片高低温冲击测试冷热冲击

    热流仪芯片高低温冲击测试冷热冲击,Thermo TST 是一台精密的高低温冲击气流仪,具有更guan泛的温度范围-80℃到+225℃,提供了很强的温度转换测试能力。温度转换从-55℃到+125℃之间转换约10秒,经长期的多工况验证,满足各类生产环境和工程环境的要求。TS780是纯机械制冷,wu需液氮或任何其他消耗性制冷剂。

    更新时间:2026-01-12
    产品型号:
    浏览量:161
  • TS780热流仪高低温冲击仪电子芯片测试精密仪器

    热流仪高低温冲击仪电子芯片测试精密仪器,Thermo TST 是一台精密的高低温冲击气流仪,具有更guan泛的温度范围-80℃到+225℃,提供了很强的温度转换测试能力。温度转换从-55℃到+125℃之间转换约10秒,经长期的多工况验证,满足各类生产环境和工程环境的要求。TS780是纯机械制冷,wu需液氮或任何其他消耗性制冷剂。

    更新时间:2026-01-12
    产品型号:TS780
    浏览量:170
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