半导体芯片HAST测试设备 试验箱是一种用于评估芯片在低温环境条件下性能和可靠性的测试方法。HAST加速老化试验箱广泛应用于多层电路板、IC封装、液晶屏、LED、半导体、磁性材料、NdFeB、稀土、磁铁等材料的密封性能测试，对上述产品的耐压力和气密性进行测试。半导体芯片HAST

HAST测试机HAST加速老化测试设备试验箱，是一种用于评估芯片在低温环境条件下性能和可靠性的测试方法。HAST加速老化试验箱广泛应用于多层电路板、IC封装、液晶屏、LED、半导体、磁性材料、NdFeB、稀土、磁铁等材料的密封性能测试，对上述产品的耐压力和气密性进行测试。

RF射频芯片的HAST测试 试验箱，RF射频芯片的HAST测试（Highly Accelerated Stress Test，高加速应力测试）是一种用于评估芯片在低温环境条件下性能和可靠性的测试方法。

IGBT-HAST试验箱 高加速老化,是用于调查分析何时出现电子元器件和机械零件的摩耗和使用寿命的问题的试验设备,其目的是提高环境应力与工作应力、加快试验过程缩短产品或系统的寿命试验时间。 用于 PCB、LCD Board、电池、电容、电阻、IC 半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件及其它电子零件之高温

IGBT-HAST测试箱,HAST CHAMBER 又称为超加速寿命试验机,是用于调查分析何时出现电子元器件和机械零件的摩耗和使用寿命的问题的试验设备,其目的是提高环境应力与工作应力、加快试验过程缩短产品或系统的寿命试验时间。

BHAST温湿度偏压高加速应力测试 试验箱，bHAST温湿度偏压高加速应力测试（Bias Highly Accelerated Stress Test）bHAST测试为带电的高温高湿条件下的可靠性（参考与执行试验标准:JESD22-A110）。该测试的目的就是为了让器件加速腐蚀，看芯片的工作状态。施加电压的原则如下：测试芯片所有供电要接上，处于工作状态下的最小功耗。