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  • HAST高加速寿命试验箱 偏压老化测试

    HAST高加速寿命试验箱 偏压老化测试 HAST高加速寿命试验箱是主要用于评估在湿度环境下产品或者材料的可靠性,是通 过在高度受控的压力容器内设定和创建温度、湿度、压力的各种条件来完成的,这 些条件加速了水分穿透外部保护性塑料包装并将这些应力条件施加到材料本体或者 产品内部。

    更新时间:2026-08-05
    产品型号:
    浏览量:67
  • HAST高加速老化试验箱

    HAST高加速老化试验箱 HAST高加速寿命试验箱是主要用于评估在湿度环境下产品或者材料的可靠性,是通 过在高度受控的压力容器内设定和创建温度、湿度、压力的各种条件来完成的,这 些条件加速了水分穿透外部保护性塑料包装并将这些应力条件施加到材料本体或者 产品内部。

    更新时间:2026-08-05
    产品型号:
    浏览量:68
  • 低温冷却机代换 ATC840冷热冲击机

    低温冷却机代换 ATC840冷热冲击机 ThermoTST ATC840通过接触头与 DUT之间直接接触,将DUT的温度(壳温 或者结温)调整到目标温度点进行相应的 性能测试。同时适用于已焊接的芯片和 使用socket 的芯片,可以真正做到只控 制待测芯片温度而不影响外围电路,排 除外围电路引起的不确定性。

    更新时间:2026-08-05
    产品型号:
    浏览量:46
  • 高低温测试箱应用 ATC840冷热冲击机

    高低温测试箱应用 ATC840冷热冲击机 ThermoTST ATC840通过接触头与 DUT之间直接接触,将DUT的温度(壳温 或者结温)调整到目标温度点进行相应的 性能测试。同时适用于已焊接的芯片和 使用socket 的芯片,可以真正做到只控 制待测芯片温度而不影响外围电路,排 除外围电路引起的不确定性。

    更新时间:2026-08-05
    产品型号:
    浏览量:62
  • ATC840高低温循环冲击机

    ATC840高低温循环冲击机 ThermoTST ATC840通过接触头与 DUT之间直接接触,将DUT的温度(壳温 或者结温)调整到目标温度点进行相应的 性能测试。同时适用于已焊接的芯片和 使用socket 的芯片,可以真正做到只控 制待测芯片温度而不影响外围电路,排 除外围电路引起的不确定性。

    更新时间:2026-08-05
    产品型号:
    浏览量:107
  • 桌面式快速温变试验机 ATC800接触式

    桌面式快速温变试验机 ATC800接触式 ThermoTST ATC800通过接触头与 DUT之间直接接触,将DUT的温度(壳温 或者结温)调整到目标温度点进行相应的 性能测试。同时适用于已焊接的芯片和 使用socket 的芯片,可以真正做到只控 制待测芯片温度而不影响外围电路,排 除外围电路引起的不确定性。

    更新时间:2026-08-05
    产品型号:
    浏览量:86
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