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  • zonglenHAST老化试验箱ECM-HAST

    HAST老化试验箱ECM-HAST,评估系统,绝缘电阻劣化评估系统是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压,经过长时间的测试(1~1000小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生,并记录电阻值变化状况,故又叫做CAF试验,绝缘阻力电阻试验,我们将其统称为绝缘劣化试验,可进行BHAST试验。

    更新时间:2026-04-24
    产品型号:zonglen
    浏览量:51
  • zonglenBiasHAST半导体封装工艺试验箱

    BiasHAST半导体封装工艺试验箱,评估系统,绝缘电阻劣化评估系统是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压,经过长时间的测试(1~1000小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生,并记录电阻值变化状况,故又叫做CAF试验,绝缘阻力电阻试验,我们将其统称为绝缘劣化试验,可进行BHAST试验。

    更新时间:2026-04-07
    产品型号:zonglen
    浏览量:92
  • zonglenHAST试验箱绝缘电阻劣化离子迁移CAF

    HAST试验箱绝缘电阻劣化离子迁移CAF,评估系统,绝缘电阻劣化评估系统是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压,经过长时间的测试(1~1000小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生,并记录电阻值变化状况,故又叫做CAF试验,绝缘阻力电阻试验,我们将其统称为绝缘劣化试验,可进行BHAST试验。

    更新时间:2026-04-02
    产品型号:zonglen
    浏览量:96
  • zonglenHAST试验箱绝缘电阻劣化(离子迁移CAF)

    HAST试验箱绝缘电阻劣化(离子迁移CAF),评估系统,绝缘电阻劣化评估系统是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压,经过长时间的测试(1~1000小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生,并记录电阻值变化状况,故又叫做CAF试验,绝缘阻力电阻试验,我们将其统称为绝缘劣化试验,可进行BHAST试验。

    更新时间:2026-04-01
    产品型号:zonglen
    浏览量:93
  • zonglenBiasHAST半导体封装工艺Chiller试验箱

    BiasHAST半导体封装工艺Chiller试验箱,评估系统,绝缘电阻劣化评估系统是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压,经过长时间的测试(1~1000小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生,并记录电阻值变化状况,故又叫做CAF试验,绝缘阻力电阻试验,我们将其统称为绝缘劣化试验,可进行BHAST试验。

    更新时间:2026-04-01
    产品型号:zonglen
    浏览量:80
  • zonglen试验箱HAST绝缘电阻劣化(离子迁移CAF)

    试验箱HAST绝缘电阻劣化(离子迁移CAF),评估系统,绝缘电阻劣化评估系统是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压,经过长时间的测试(1~1000小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生,并记录电阻值变化状况,故又叫做CAF试验,绝缘阻力电阻试验,我们将其统称为绝缘劣化试验,可进行BHAST试验。

    更新时间:2026-04-01
    产品型号:zonglen
    浏览量:74
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