HAST测试机试验箱高加速压力系统（HAST）结合了高温、高湿度、高压和时间，以测量元件的可靠性，无论是否具有电偏置。HAST测试以受控的方式加速了更传统测试的压力。它本质上是一种腐蚀失效测试。腐蚀型故障加速，在较短的时间内发现包装密封，材料和接头等缺陷。

高加速老化HAST箱HAST测试机Burn-in Oven，是一种用于评估芯片在低温环境条件下性能和可靠性的测试方法。Burn-in Oven老化测试广泛应用于多层电路板、IC封装、液晶屏、LED、半导体、磁性材料、NdFeB、稀土、磁铁等材料的密封性能测试。

HAST测试机Burn-in Chamber老化测试，是一种用于评估芯片在低温环境条件下性能和可靠性的测试方法。Burn-in Chamber老化测试广泛应用于多层电路板、IC封装、液晶屏、LED、半导体、磁性材料、NdFeB、稀土、磁铁等材料的密封性能测试。

高加速老化测试HAST Burn-in system，是一种用于评估芯片在低温环境条件下性能和可靠性的测试方法。HAST加速老化试验箱Burn-in system广泛应用于多层电路板、IC封装、液晶屏、LED、半导体、磁性材料、NdFeB、稀土、磁铁等材料的密封性能测试，对上述产品的耐压力和气密性进行测试。

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半导体芯片HAST测试设备 试验箱是一种用于评估芯片在低温环境条件下性能和可靠性的测试方法。HAST加速老化试验箱广泛应用于多层电路板、IC封装、液晶屏、LED、半导体、磁性材料、NdFeB、稀土、磁铁等材料的密封性能测试，对上述产品的耐压力和气密性进行测试。半导体芯片HAST