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当前位置:首页产品中心温度测试单元HAST高加速寿命试验箱

  • 标准高温高湿测试 HAST高加速寿命试验箱

    标准高温高湿测试 HAST高加速寿命试验箱是主要用于评估在湿度环境下产品或者材料的可靠性,是通 过在高度受控的压力容器内设定和创建温度、湿度、压力的各种条件来完成的,这 些条件加速了水分穿透外部保护性塑料包装并将这些应力条件施加到材料本体或者 产品内部。

    更新时间:2026-05-13
    产品型号:
    浏览量:108
  • bHAST测试 HAST高加速寿命试验箱

    bHAST测试 HAST高加速寿命试验箱是主要用于评估在湿度环境下产品或者材料的可靠性,是通 过在高度受控的压力容器内设定和创建温度、湿度、压力的各种条件来完成的,这 些条件加速了水分穿透外部保护性塑料包装并将这些应力条件施加到材料本体或者 产品内部。

    更新时间:2026-05-13
    产品型号:
    浏览量:117
  • HAST偏压老化试验箱Burn-in Chamber

    HAST偏压老化试验箱Burn-in Chamber,评估系统,绝缘电阻劣化评估系统是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压,经过长时间的测试(1~1000小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生,并记录电阻值变化状况,故又叫做CAF试验,绝缘阻力电阻试验,我们将其统称为绝缘劣化试验,可进行BHAST试验。

    更新时间:2026-04-27
    产品型号:
    浏览量:86
  • 半导体芯片BiasHAST测试高加速HAST测试

    半导体芯片BiasHAST测试高加速HAST测试,评估系统,绝缘电阻劣化评估系统是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压,经过长时间的测试(1~1000小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生,并记录电阻值变化状况,故又叫做CAF试验,绝缘阻力电阻试验,我们将其统称为绝缘劣化试验,可进行BHAST试验。

    更新时间:2026-04-27
    产品型号:
    浏览量:106
  • RF射频芯片HAST测试偏压老化测试试验箱

    RF射频芯片HAST测试偏压老化测试试验箱,评估系统,绝缘电阻劣化评估系统是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压,经过长时间的测试(1~1000小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生,并记录电阻值变化状况,故又叫做CAF试验,绝缘阻力电阻试验,我们将其统称为绝缘劣化试验,可进行BHAST试验。

    更新时间:2026-04-27
    产品型号:
    浏览量:107
  • 立式偏压老化测试系统老化试验箱HAST测试

    立式偏压老化测试系统老化试验箱HAST测试,评估系统,绝缘电阻劣化评估系统是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压,经过长时间的测试(1~1000小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生,并记录电阻值变化状况,故又叫做CAF试验,绝缘阻力电阻试验,我们将其统称为绝缘劣化试验,可进行BHAST试验。

    更新时间:2026-04-27
    产品型号:
    浏览量:140
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