thermoplate温度系统 接触式三温测试台 ThermoTST ATC885-1K通过接触头与DUT之间 直接接触，将DUT 的温度(壳温或者结温)调整到 目标温度点进行相应的性能测试。同时适用于已 焊接的芯片和使用socket 的芯片，可以真正做到 只控制待测芯片温度而不影响外围电路，排除外 围电路引起的不确定性。

低温环境测试 ATC885-1K接触式thermoplate ThermoTST ATC885-1K通过接触头与DUT之间 直接接触，将DUT 的温度(壳温或者结温)调整到 目标温度点进行相应的性能测试。同时适用于已 焊接的芯片和使用socket 的芯片，可以真正做到 只控制待测芯片温度而不影响外围电路，排除外 围电路引起的不确定性。

ATC885-1K接触式高低温冲击机 ThermoTST ATC885-1K通过接触头与DUT之间 直接接触，将DUT 的温度(壳温或者结温)调整到 目标温度点进行相应的性能测试。同时适用于已 焊接的芯片和使用socket 的芯片，可以真正做到 只控制待测芯片温度而不影响外围电路，排除外 围电路引起的不确定性。

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