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  • 失效分析 接触式桌上型冷热冲击机ATC800E

    失效分析 接触式桌上型冷热冲击机ATC800E 温度控制单元具有高功率和高灵活性的特点,可以通过定制来适应不同的芯片 封装和接口。该系统允许对各种功率、尺寸和类型的芯片施加温度,无论是使 用 Socket 还是已经焊接到PCB 上的芯片。

    更新时间:2026-06-24
    产品型号:
    浏览量:57
  • 三温芯片测试台 桌面式设计冲击机

    三温芯片测试台 桌面式设计冲击机 ATC620通过接触头与 DUT之间直接接触,将DUT的温度(壳温 或者结温)调整到目标温度点进行相应的 性能测试。同时适用于已焊接的芯片和 使用socket 的芯片,可以真正做到只控 制待测芯片温度而不影响外围电路,排 除外围电路引起的不确定性。

    更新时间:2026-06-24
    产品型号:
    浏览量:88
  • 接触式冷热测试台 高低温冲击机器

    接触式冷热测试台 高低温冲击机器 ATC620通过接触头与 DUT之间直接接触,将DUT的温度(壳温 或者结温)调整到目标温度点进行相应的 性能测试。同时适用于已焊接的芯片和 使用socket 的芯片,可以真正做到只控 制待测芯片温度而不影响外围电路,排 除外围电路引起的不确定性。

    更新时间:2026-06-22
    产品型号:
    浏览量:73
  • 中冷低温 接触式三温芯片测试台

    中冷低温 接触式三温芯片测试台 ThermoTST ATC620通过接触头与 DUT之间直接接触,将DUT的温度(壳温 或者结温)调整到目标温度点进行相应的 性能测试。同时适用于已焊接的芯片和 使用socket 的芯片,可以真正做到只控 制待测芯片温度而不影响外围电路,排 除外围电路引起的不确定性。

    更新时间:2026-06-22
    产品型号:
    浏览量:64
  • 桌上型冷热冲击机  接触式温度控制设备

    桌上型冷热冲击机 接触式温度控制设备 ThermoTST ATC620通过接触头与 DUT之间直接接触,将DUT的温度(壳温 或者结温)调整到目标温度点进行相应的 性能测试。同时适用于已焊接的芯片和 使用socket 的芯片,可以真正做到只控 制待测芯片温度而不影响外围电路,排 除外围电路引起的不确定性。

    更新时间:2026-06-22
    产品型号:
    浏览量:67
  • 接触式ATC820三温芯片测试台

    接触式ATC820三温芯片测试台 ThermoTSTATC820通过接触头与 DUT之间直接接触,将DUT的温度(壳温 或者结温)调整到目标温度点进行相应的 性能测试。同时适用于已焊接的芯片和 使用socket 的芯片,可以真正做到只控 制待测芯片温度而不影响外围电路,排除外围电路引起的不确定性。

    更新时间:2026-06-08
    产品型号:
    浏览量:93
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