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  • ATC860PLUS接触式高低温冲击机

    ATC860PLUS接触式高低温冲击机 ThermoTST ATC860 PLUS通过接触头 与DUT 之间直接接触,将DUT的温度(壳 温或者结温)调整到目标温度点进行相应 的性能测试。同时适用于已焊接的芯片 和使用socket 的芯片,可以真正做到只 控制待测芯片温度而不影响外围电路, 排除外围电路引起的不确定性。

    更新时间:2026-10-19
    产品型号:
    浏览量:184
  • 接触式ATC840E冷热冲击机

    接触式ATC840E冷热冲击机 ThermoTST ATC840E通过接触头与 DUT之间直接接触,将DUT的温度(壳温 或者结温)调整到目标温度点进行相应的 性能测试。同时适用于已焊接的芯片和 使用socket 的芯片,可以真正做到只控 制待测芯片温度而不影响外围电路,排 除外围电路引起的不确定性。

    更新时间:2026-10-19
    产品型号:
    浏览量:225
  • ATC840E接触式thermoplate温度系统

    ATC840E接触式thermoplate温度系统 ThermoTST ATC840E通过接触头与 DUT之间直接接触,将DUT的温度(壳温 或者结温)调整到目标温度点进行相应的 性能测试。同时适用于已焊接的芯片和 使用socket 的芯片,可以真正做到只控 制待测芯片温度而不影响外围电路,排 除外围电路引起的不确定性。

    更新时间:2026-10-19
    产品型号:
    浏览量:219
  • 温度测试 ATC840E桌上型快速温变冲击机

    温度测试 ATC840E桌上型快速温变冲击机 ThermoTST ATC840E通过接触头与 DUT之间直接接触,将DUT的温度(壳温 或者结温)调整到目标温度点进行相应的 性能测试。同时适用于已焊接的芯片和 使用socket 的芯片,可以真正做到只控 制待测芯片温度而不影响外围电路,排 除外围电路引起的不确定性。

    更新时间:2026-10-19
    产品型号:
    浏览量:175
  • thermoplate ATC860接触式冷热冲击机

    thermoplate ATC860接触式冷热冲击机 ThermoTST ATC860通过接触头与 DUT之间直接接触,将DUT的温度(壳温 或者结温)调整到目标温度点进行相应的 性能测试。同时适用于已焊接的芯片和 使用socket 的芯片,可以真正做到只控 制待测芯片温度而不影响外围电路,排 除外围电路引起的不确定性。

    更新时间:2026-10-19
    产品型号:
    浏览量:200
  • ATC860接触式冷热冲击机  IC测试

    ATC860接触式冷热冲击机 IC测试 ThermoTST ATC860通过接触头与 DUT之间直接接触,将DUT的温度(壳温 或者结温)调整到目标温度点进行相应的 性能测试。同时适用于已焊接的芯片和 使用socket 的芯片,可以真正做到只控 制待测芯片温度而不影响外围电路,排 除外围电路引起的不确定性。

    更新时间:2026-10-19
    产品型号:
    浏览量:187
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