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  • 桌面型设计低噪音 ATC840S接触式冲击机

    桌面型设计低噪音 ATC840S接触式冲击机 ThermoTST ATC840S通过接触头与 DUT之间直接接触,将DUT的温度(壳温 或者结温)调整到目标温度点进行相应的 性能测试。同时适用于已焊接的芯片和 使用socket 的芯片,可以真正做到只控 制待测芯片温度而不影响外围电路,排 除外围电路引起的不确定性。

    更新时间:2026-05-11
    产品型号:
    浏览量:96
  • ATC840S接触式冷热台 桌上型冷热冲击机

    ATC840S接触式冷热台 桌上型冷热冲击机 ThermoTST ATC840S通过接触头与 DUT之间直接接触,将DUT的温度(壳温 或者结温)调整到目标温度点进行相应的 性能测试。同时适用于已焊接的芯片和 使用socket 的芯片,可以真正做到只控 制待测芯片温度而不影响外围电路,排 除外围电路引起的不确定性。

    更新时间:2026-05-11
    产品型号:
    浏览量:85
  • 高低温冷热台 ATC840S接触式冷热冲击机

    高低温冷热台 ATC840S接触式冷热冲击机 ThermoTST ATC840S通过接触头与 DUT之间直接接触,将DUT的温度(壳温 或者结温)调整到目标温度点进行相应的 性能测试。同时适用于已焊接的芯片和 使用socket 的芯片,可以真正做到只控 制待测芯片温度而不影响外围电路,排 除外围电路引起的不确定性。

    更新时间:2026-05-11
    产品型号:
    浏览量:94
  • 冷热台温度系统 ATC840接触式三温芯片

    冷热台温度系统 ATC840接触式三温芯片 ThermoTSTATC840通过接触头与 DUT之间直接接触,将DUT的温度(壳温 或者结温)调整到目标温度点进行相应的 性能测试。同时适用于已焊接的芯片和 使用socket 的芯片,可以真正做到只控 制待测芯片温度而不影响外围电路,排 除外围电路引起的不确定性。

    更新时间:2026-05-09
    产品型号:
    浏览量:112
  • 冷热台 ATC840接触式三温测试台

    冷热台 ATC840接触式三温测试台 ThermoTSTATC840通过接触头与 DUT之间直接接触,将DUT的温度(壳温 或者结温)调整到目标温度点进行相应的 性能测试。同时适用于已焊接的芯片和 使用socket 的芯片,可以真正做到只控 制待测芯片温度而不影响外围电路,排 除外围电路引起的不确定性。

    更新时间:2026-05-09
    产品型号:
    浏览量:116
  • ATC840接触式thermoplate温度系统

    ATC840接触式thermoplate温度系统 ThermoTSTATC840通过接触头与 DUT之间直接接触,将DUT的温度(壳温 或者结温)调整到目标温度点进行相应的 性能测试。同时适用于已焊接的芯片和 使用socket 的芯片,可以真正做到只控 制待测芯片温度而不影响外围电路,排 除外围电路引起的不确定性。

    更新时间:2026-05-09
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