高加速寿命老化试验箱用于模拟不同气候条件变化 对产品的影响，评价产品的可靠性和 耐久性的仪器设备。是考察产品热机 械性能引起的失效，构成产品各部件 的材料热匹配较差，或部件内应力较 大时，温变试验可引发产品由机械结 构缺陷劣化产生的失效。快速温变试 验是环境应力筛选的有力手段，可有 效剔除产品的早期失效。

HAST快速温变测试试验箱用于模拟不同气候条件变化 对产品的影响，评价产品的可靠性和 耐久性的仪器设备。是考察产品热机 械性能引起的失效，构成产品各部件 的材料热匹配较差，或部件内应力较 大时，温变试验可引发产品由机械结 构缺陷劣化产生的失效。快速温变试 验是环境应力筛选的有力手段，可有 效剔除产品的早期失效。

偏压老化测试 BHAST试验箱是一种信赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固 定的直流电压，经过长时间的测试(1～1000小时)并观察线路是否有瞬间短 路的现象发生，并记录电阻值变化状况，故又叫做CAF试验，绝缘阻力电阻试 验，我们将其统称为绝缘劣化试验，可进行BHAST 试验。在高温高湿条件 下，对电子零部件以及印刷电路板的绝缘部分测试电阻值，也能够进行高效率 的绝缘可靠性评估。

BHAST 离子迁移CAF评估系统试验箱是一种信赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固 定的直流电压，经过长时间的测试(1～1000小时)并观察线路是否有瞬间短 路的现象发生，并记录电阻值变化状况，故又叫做CAF试验，绝缘阻力电阻试 验，我们将其统称为绝缘劣化试验，可进行BHAST 试验。在高温高湿条件 下，对电子零部件以及印刷电路板的绝缘部分测试电阻值，也能够进行高效率 的绝缘可靠性评估。

吸湿特性评估测试 BHAST试验箱是一种信赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固 定的直流电压，经过长时间的测试(1～1000小时)并观察线路是否有瞬间短 路的现象发生，并记录电阻值变化状况，故又叫做CAF试验，绝缘阻力电阻试 验，我们将其统称为绝缘劣化试验，可进行BHAST 试验。在高温高湿条件 下，对电子零部件以及印刷电路板的绝缘部分测试电阻值，也能够进行高效率 的绝缘可靠性评估。

离子迁移CAF评估系统试验箱是一种信赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固 定的直流电压，经过长时间的测试(1～1000小时)并观察线路是否有瞬间短 路的现象发生，并记录电阻值变化状况，故又叫做CAF试验，绝缘阻力电阻试 验，我们将其统称为绝缘劣化试验，可进行BHAST 试验。在高温高湿条件 下，对电子零部件以及印刷电路板的绝缘部分测试电阻值，也能够进行高效率 的绝缘可靠性评估。