温度测试 HAST高加速寿命试验箱
HAST高加速寿命试验箱是主要用于评估在湿度环境下产品或者材料的可靠性，是通 过在高度受控的压力容器内设定和创建温度、湿度、压力的各种条件来完成的，这 些条件加速了水分穿透外部保护性塑料包装并将这些应力条件施加到材料本体或者 产品内部。

温度测试 HAST高加速寿命试验箱

HAST高加速寿命试验箱是主要用于评估在湿度环境下产品或者材料的可靠性，是通 过在高度受控的压力容器内设定和创建温度、湿度、压力的各种条件来完成的，这 些条件加速了水分穿透外部保护性塑料包装并将这些应力条件施加到材料本体或者 产品内部。相对于传统的高温高湿测试，HAST增加了容器内的压力，使得可以实现 超过100℃条件下的温湿度控制，能够加速温湿度的老化效果(如迁移，腐蚀，绝缘 劣化，材料老化等),大大缩短可靠性评估的测试周期，节约时间成本。HAST高加 速老化测试已成为某些行业的标准，特别是在PCB、半导体、太阳能、显示面板等 产品中，作为标准高温高湿测试的快速有效替代方案。

温度测试 HAST高加速寿命试验箱

特点

·标准设计更安全，内胆圆弧设 计防止结露滴水，符合国家安 全容器规范

·多重保护功能，两道高温保护 装置、湿度用水断水保护、超 压保护

·稳定性更高：内置自研PID控 制算法，确保温度、湿度以及 压力值准确度

·湿度自由选择：饱和与非饱和 自由设定

·智能化高：USB数据、曲线导 出保存

应用

用于评估非气密性封装IC器件、金属材料等在湿度环境下的可靠性。该试验检查芯 片长期贮存条件下，高温和时间对器件的影响。本设备适用于量产芯片验证测试阶 段的HAST测试需求，仅针对非密封封装(塑料封装),带偏置 ( bHAST)  和不带 偏置 ( uHAST)  的测试。