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产品失效分析 接触式冷热冲击机ATC620

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产品失效分析 接触式冷热冲击机ATC620
ThermoTST ATC620通过接触头与DUT之间直接接触,将DUT的温度(壳温或者结温)调整到目标温度点进行相应的性能测试。同时适用于已焊接的芯片和使用socket的芯片,可以真正做到只控制待测芯片温度而不影响外围电路,排除外围电路引起的不确定性。

产品型号:
更新时间:2026-05-09
厂商性质:生产厂家
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品牌其他品牌应用领域化工,能源,电子/电池,电气,综合

ThermoTST ATC620通过接触头与DUT之间直接接触,将DUT的温度(壳温或者结温)调整到目标温度点进行相应的性能测试。同时适用于已焊接的芯片和使用socket的芯片,可以真正做到只控制待测芯片温度而不影响外围电路,排除外围电路引起的不确定性。

温度控制单元具有高功率和高灵活性的特点,可以通过定制来适应不同的芯片封装和接口。该系统允许对各种功率、尺寸和类型的芯片施加温度,无论是使用 Socket 还是已经焊接到 PCB 上的芯片。

应用

适用于IC特性、测试和失效分析:

ATE,SLT和工作台高低温测试箱/低温冷却机代换

OEM集成

系统组成

·主机:可根据具体需求选取合适的温度区间这是整个控制系统的核心。

·测试头前端:实现测试头和待测芯片的连接以及能量传导。测试架一方 面起到固定的作用另一方面也适用于没有socket 器件的测试。

·干燥压缩气源:使用干燥压缩气源(一般是空气或氮气)的目的是一方面 防止低温测试环境产生冷凝水或结霜现象,另一方面是为气动系统提供 压力。可以根据使用场所的具体情况考虑合适的供气方式。




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