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  • ThermoChuck高低温CHUCK

    ThermoChuck高低温CHUCK,晶圆盘系统用于半导体晶圆的表征测试、建模、工艺开发、设计调试,去BUG或IC故障分析,具有所有主要分析探针台集成所需的性能和多功能性,三温Chuck高低温晶圆盘。

    更新时间:2026-07-15
    产品型号:
    浏览量:110
  • ThermoChuck高低温Plate

    ThermoChuck高低温Plate,晶圆盘系统用于半导体晶圆的表征测试、建模、工艺开发、设计调试,去BUG或IC故障分析,具有所有主要分析探针台集成所需的性能和多功能性,三温Chuck高低温晶圆盘。

    更新时间:2026-07-15
    产品型号:
    浏览量:155
  • ThermoChuck卡盘探针台卡盘

    ThermoChuck卡盘探针台卡盘,晶圆盘系统用于半导体晶圆的表征测试、建模、工艺开发、设计调试,去BUG或IC故障分析,具有所有主要分析探针台集成所需的性能和多功能性,三温Chuck高低温晶圆盘。

    更新时间:2026-07-15
    产品型号:
    浏览量:106
  • 三温Chuck探针台卡盘

    三温Chuck探针台卡盘,晶圆盘系统用于半导体晶圆的表征测试、建模、工艺开发、设计调试,去BUG或IC故障分析,具有所有主要分析探针台集成所需的性能和多功能性,三温Chuck高低温晶圆盘。

    更新时间:2026-07-15
    产品型号:
    浏览量:110
  • Thermochuck温度迫使系统卡盘三温

    Thermochuck温度迫使系统卡盘三温,晶圆盘系统用于半导体晶圆的表征测试、建模、工艺开发、设计调试,去BUG或IC故障分析,具有所有主要分析探针台集成所需的性能和多功能性,三温Chuck高低温晶圆盘。

    更新时间:2026-07-15
    产品型号:
    浏览量:137
  • 立式偏压老化测试系统老化试验箱HAST测试

    立式偏压老化测试系统老化试验箱HAST测试,评估系统,绝缘电阻劣化评估系统是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压,经过长时间的测试(1~1000小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生,并记录电阻值变化状况,故又叫做CAF试验,绝缘阻力电阻试验,我们将其统称为绝缘劣化试验,可进行BHAST试验。

    更新时间:2026-07-15
    产品型号:
    浏览量:201
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