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  • 气流仪高低温循环测试设备热流罩

    气流仪高低温循环测试设备热流罩 ThermoTST HTS300是一台精密的高低温冲击气流仪,具有更广泛的温度范围常温(进气温度)到+300℃,提供了很强的温度转换测试能力。

    更新时间:2026-07-15
    产品型号:
    浏览量:119
  • 气流仪高低温循环测试设备热流仪

    气流仪高低温循环测试设备热流仪 ThermoTST HTS300是一台精密的高低温冲击气流仪,具有更广泛的温度范围常温(进气温度)到+300℃,提供了很强的温度转换测试能力。

    更新时间:2026-07-15
    产品型号:
    浏览量:100
  • Thermochuck热控卡盘三温芯片探台针

    Thermochuck热控卡盘三温芯片探台针,晶圆盘系统用于半导体晶圆的表征测试、建模、工艺开发、设计调试,去BUG或IC故障分析,具有所有主要分析探针台集成所需的性能和多功能性,三温Chuck高低温晶圆盘。

    更新时间:2026-07-15
    产品型号:
    浏览量:164
  • ThermoChuck探针台卡盘三温Chuck

    ThermoChuck探针台卡盘三温Chuck,晶圆盘系统用于半导体晶圆的表征测试、建模、工艺开发、设计调试,去BUG或IC故障分析,具有所有主要分析探针台集成所需的性能和多功能性,三温Chuck高低温晶圆盘。

    更新时间:2026-07-15
    产品型号:
    浏览量:208
  • Thermochuck三温芯片探针台

    Thermochuck三温芯片探针台,晶圆盘系统用于半导体晶圆的表征测试、建模、工艺开发、设计调试,去BUG或IC故障分析,具有所有主要分析探针台集成所需的性能和多功能性,三温Chuck高低温晶圆盘。

    更新时间:2026-07-15
    产品型号:
    浏览量:154
  • 三温芯片探针台Thermochuck热控卡盘

    三温芯片探针台Thermochuck热控卡盘,晶圆盘系统用于半导体晶圆的表征测试、建模、工艺开发、设计调试,去BUG或IC故障分析,具有所有主要分析探针台集成所需的性能和多功能性,三温Chuck高低温晶圆盘。

    更新时间:2026-07-15
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    浏览量:154
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