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  • 中冷低温 HAST快速温度变化试验箱

    中冷低温 HAST快速温度变化试验箱用于模拟不同气候条件变化 对产品的影响,评价产品的可靠性和 耐久性的仪器设备。是考察产品热机 械性能引起的失效,构成产品各部件 的材料热匹配较差,或部件内应力较 大时,温变试验可引发产品由机械结 构缺陷劣化产生的失效。快速温变试 验是环境应力筛选的有力手段,可有 效剔除产品的早期失效。

    更新时间:2026-10-20
    产品型号:
    浏览量:59
  • 中冷低温 ATC860冷热冲击机

    中冷低温 ATC860冷热冲击机 ThermoTST ATC860通过接触头与 DUT之间直接接触,将DUT的温度(壳温 或者结温)调整到目标温度点进行相应的 性能测试。同时适用于已焊接的芯片和 使用socket 的芯片,可以真正做到只控 制待测芯片温度而不影响外围电路,排 除外围电路引起的不确定性。

    更新时间:2026-10-20
    产品型号:
    浏览量:186
  • 中冷低温 冷热台温度系统ATC860冷热冲击机

    中冷低温 冷热台温度系统ATC860冷热冲击机 ThermoTST ATC860通过接触头与 DUT之间直接接触,将DUT的温度(壳温 或者结温)调整到目标温度点进行相应的 性能测试。同时适用于已焊接的芯片和 使用socket 的芯片,可以真正做到只控 制待测芯片温度而不影响外围电路,排 除外围电路引起的不确定性。

    更新时间:2026-10-20
    产品型号:
    浏览量:163
  • 低环境散热 ATC860E桌面式快速温变试验机

    低环境散热 ATC860E桌面式快速温变试验机 ThermoTST ATC860E通过接触头与 DUT之间直接接触,将DUT的温度(壳温 或者结温)调整到目标温度点进行相应的 性能测试。同时适用于已焊接的芯片和 使用socket 的芯片,可以真正做到只控 制待测芯片温度而不影响外围电路,排 除外围电路引起的不确定性。

    更新时间:2026-10-20
    产品型号:
    浏览量:151
  • 成都中冷低温 ATC860E桌面式快速温变试验机

    成都中冷低温 ATC860E桌面式快速温变试验机 ThermoTST ATC860E通过接触头与 DUT之间直接接触,将DUT的温度(壳温 或者结温)调整到目标温度点进行相应的 性能测试。同时适用于已焊接的芯片和 使用socket 的芯片,可以真正做到只控 制待测芯片温度而不影响外围电路,排 除外围电路引起的不确定性。

    更新时间:2026-10-20
    产品型号:
    浏览量:161
  • ATC860E桌面式快速温变试验机

    ATC860E桌面式快速温变试验机 ThermoTST ATC860E通过接触头与 DUT之间直接接触,将DUT的温度(壳温 或者结温)调整到目标温度点进行相应的 性能测试。同时适用于已焊接的芯片和 使用socket 的芯片,可以真正做到只控 制待测芯片温度而不影响外围电路,排 除外围电路引起的不确定性。

    更新时间:2026-10-20
    产品型号:
    浏览量:152
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