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产品分类ATC840S接触式冷热台 桌上型冷热冲击机 ThermoTST ATC840S通过接触头与 DUT之间直接接触,将DUT的温度(壳温 或者结温)调整到目标温度点进行相应的 性能测试。同时适用于已焊接的芯片和 使用socket 的芯片,可以真正做到只控 制待测芯片温度而不影响外围电路,排 除外围电路引起的不确定性。
更新时间:2026-07-15
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浏览量:131
高低温冷热台 ATC840S接触式冷热冲击机 ThermoTST ATC840S通过接触头与 DUT之间直接接触,将DUT的温度(壳温 或者结温)调整到目标温度点进行相应的 性能测试。同时适用于已焊接的芯片和 使用socket 的芯片,可以真正做到只控 制待测芯片温度而不影响外围电路,排 除外围电路引起的不确定性。
更新时间:2026-07-15
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冷热台温度系统 ATC840接触式三温芯片 ThermoTSTATC840通过接触头与 DUT之间直接接触,将DUT的温度(壳温 或者结温)调整到目标温度点进行相应的 性能测试。同时适用于已焊接的芯片和 使用socket 的芯片,可以真正做到只控 制待测芯片温度而不影响外围电路,排 除外围电路引起的不确定性。
更新时间:2026-07-15
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浏览量:143
冷热台 ATC840接触式三温测试台 ThermoTSTATC840通过接触头与 DUT之间直接接触,将DUT的温度(壳温 或者结温)调整到目标温度点进行相应的 性能测试。同时适用于已焊接的芯片和 使用socket 的芯片,可以真正做到只控 制待测芯片温度而不影响外围电路,排 除外围电路引起的不确定性。
更新时间:2026-07-15
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ATC840接触式thermoplate温度系统 ThermoTSTATC840通过接触头与 DUT之间直接接触,将DUT的温度(壳温 或者结温)调整到目标温度点进行相应的 性能测试。同时适用于已焊接的芯片和 使用socket 的芯片,可以真正做到只控 制待测芯片温度而不影响外围电路,排 除外围电路引起的不确定性。
更新时间:2026-07-15
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IC失效分析 ATC840PLUS接触式高低温冲击机 ThermoTSTATC840PLUS通过接触头 与DUT 之间直接接触,将DUT的温度(壳 温或者结温)调整到目标温度点进行相应 的性能测试。同时适用于已焊接的芯片 和使用socket 的芯片,可以真正做到只 控制待测芯片温度而不影响外围电路, 排除外围电路引起的不确定性。
更新时间:2026-07-15
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