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产品分类HTS225高温冲击气流仪,具有更广泛的温度范围 常温(进气温度)到+225℃,提供了 非常优良的温度转换测试能力。温度转 换从常温到+125℃之间转换约10秒; 经长期的多工况验证,满足各类生产环 境和工程环境的要求。
更新时间:2026-07-15
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浏览量:136
工业用高加速寿命老化试验箱是主要用于评估在湿度环境下产品或者材料的可靠性,是通 过在高度受控的压力容器内设定和创建温度、湿度、压力的各种条件来完成的,这 些条件加速了水分穿透外部保护性塑料包装并将这些应力条件施加到材料本体或者 产品内部。
更新时间:2026-07-15
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浏览量:178
标准高温高湿测试 HAST高加速寿命试验箱是主要用于评估在湿度环境下产品或者材料的可靠性,是通 过在高度受控的压力容器内设定和创建温度、湿度、压力的各种条件来完成的,这 些条件加速了水分穿透外部保护性塑料包装并将这些应力条件施加到材料本体或者 产品内部。
更新时间:2026-07-15
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浏览量:156
bHAST测试 HAST高加速寿命试验箱是主要用于评估在湿度环境下产品或者材料的可靠性,是通 过在高度受控的压力容器内设定和创建温度、湿度、压力的各种条件来完成的,这 些条件加速了水分穿透外部保护性塑料包装并将这些应力条件施加到材料本体或者 产品内部。
更新时间:2026-07-15
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浏览量:181
应用于高低温测试箱 ATC860E接触式冲击机 ThermoTST ATC860E通过接触头与 DUT之间直接接触,将DUT的温度(壳温 或者结温)调整到目标温度点进行相应的 性能测试。同时适用于已焊接的芯片和 使用socket 的芯片,可以真正做到只控 制待测芯片温度而不影响外围电路,排 除外围电路引起的不确定性。
更新时间:2026-07-15
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浏览量:148
IC特性、测试 ATC860E接触式高低温 ThermoTST ATC860E通过接触头与 DUT之间直接接触,将DUT的温度(壳温 或者结温)调整到目标温度点进行相应的 性能测试。同时适用于已焊接的芯片和 使用socket 的芯片,可以真正做到只控 制待测芯片温度而不影响外围电路,排 除外围电路引起的不确定性。
更新时间:2026-07-15
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浏览量:156