电阻 器件温度系数测试系统，电阻温度系数测量系统是依据测试行业规范，集环境试验参数控制、电阻性能测试、保护评估控制于一体，可按照国际标准规定的环境条件下对试验样品进行实时、准确的电阻阻值测量。系统在预编程温度的情况下，实时测量样品数据，并对温度进行实时监控。测量结果数据自动存储和管理，客户可根据需求将数据导出为Excel电子表格格式，并对测试样品进行分析。

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冷热冲击试验箱 导通电阻测试系统方案，本系统针对 PCB 通路电阻测试中阻值低、测试精度高的要求，克服了手工测量过程中可能出现的干扰、不稳定等技术问题，实现了对 PCB 多通道低阻测试的解决方案。本系统不仅可以很好地替代平时的手工操作，而且还可以对放置于环境试验箱内做高低温试验的 PCB 板进行长期在线监测，从而很方便的观察 PCB 板通路在不同环境下的阻值变化情况。

Temptronic ThermoChuck 晶圆测试 升级改造，晶圆盘系统用于半导体晶圆的表征测试、建模、工艺开发、设计调试，去BUG或IC故障分析，具有所有主要分析探针台集成所需的性能和多功能性，三温Chuck高低温晶圆盘。

Temptronic ThermoChuck 晶圆测试 维修升级，晶圆盘系统用于半导体晶圆的表征测试、建模、工艺开发、设计调试，去BUG或IC故障分析，具有所有主要分析探针台集成所需的性能和多功能性，三温Chuck高低温晶圆盘。

卡盘zonglen三温Chuck探针台卡盘，晶圆盘系统用于半导体晶圆的表征测试、建模、工艺开发、设计调试，去BUG或IC故障分析，具有所有主要分析探针台集成所需的性能和多功能性，三温Chuck高低温晶圆盘。