三温芯片测试台 桌面式设计冲击机 ATC620通过接触头与 DUT之间直接接触，将DUT的温度(壳温 或者结温)调整到目标温度点进行相应的 性能测试。同时适用于已焊接的芯片和 使用socket 的芯片，可以真正做到只控 制待测芯片温度而不影响外围电路，排 除外围电路引起的不确定性。

接触式冷热测试台 高低温冲击机器 ATC620通过接触头与 DUT之间直接接触，将DUT的温度(壳温 或者结温)调整到目标温度点进行相应的 性能测试。同时适用于已焊接的芯片和 使用socket 的芯片，可以真正做到只控 制待测芯片温度而不影响外围电路，排 除外围电路引起的不确定性。

中冷低温 接触式三温芯片测试台 ThermoTST ATC620通过接触头与 DUT之间直接接触，将DUT的温度(壳温 或者结温)调整到目标温度点进行相应的 性能测试。同时适用于已焊接的芯片和 使用socket 的芯片，可以真正做到只控 制待测芯片温度而不影响外围电路，排 除外围电路引起的不确定性。

桌上型冷热冲击机 接触式温度控制设备 ThermoTST ATC620通过接触头与 DUT之间直接接触，将DUT的温度(壳温 或者结温)调整到目标温度点进行相应的 性能测试。同时适用于已焊接的芯片和 使用socket 的芯片，可以真正做到只控 制待测芯片温度而不影响外围电路，排 除外围电路引起的不确定性。

高加速寿命老化试验箱用于模拟不同气候条件变化 对产品的影响，评价产品的可靠性和 耐久性的仪器设备。是考察产品热机 械性能引起的失效，构成产品各部件 的材料热匹配较差，或部件内应力较 大时，温变试验可引发产品由机械结 构缺陷劣化产生的失效。快速温变试 验是环境应力筛选的有力手段，可有 效剔除产品的早期失效。

HAST快速温变测试试验箱用于模拟不同气候条件变化 对产品的影响，评价产品的可靠性和 耐久性的仪器设备。是考察产品热机 械性能引起的失效，构成产品各部件 的材料热匹配较差，或部件内应力较 大时，温变试验可引发产品由机械结 构缺陷劣化产生的失效。快速温变试 验是环境应力筛选的有力手段，可有 效剔除产品的早期失效。