温度强迫系统接触式高低温测试 ATC840，接触式高低温设备是针对芯片可靠性测试而研发的专用设备，通过测试头与待测器件直接贴合的方式实现能量传递，与传统气流式高低温设备（热流仪、温箱等）相比具有升降温效率高，操作简单方便，体积小巧，噪音低等特点。

接触式芯片测试设备高低温冲击设备，接触式高低温设备是针对芯片可靠性测试而研发的专用设备，通过测试头与待测器件直接贴合的方式实现能量传递，与传统气流式高低温设备（热流仪、温箱等）相比具有升降温效率高，操作简单方便，体积小巧，噪音低等特点。

高加速老化偏压应力测试系统HAST试验箱，HAST CHAMBER 又称为超加速寿命试验机,是用于调查分析何时出现电子元器件和机械零件的摩耗和使用寿命的问题的试验设备,其目的是提高环境应力与工作应力、加快试验过程缩短产品或系统的寿命试验时间。用于 PCB、LCD Board、电池、电容、电阻、IC 半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件及其它电子零件之高温。

HAST高加速老化 应力试验系统,HAST CHAMBER 又称为超加速寿命试验机,是用于调查分析何时出现电子元器件和机械零件的摩耗和使用寿命的问题的试验设备,其目的是提高环境应力与工作应力、加快试验过程缩短产品或系统的寿命试验时间。 用于 PCB、LCD Board、电池、电容、电阻、IC 半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件及其它电子零件之高温

HAST CHAMBER高加速老化应力测试系统试验箱,HAST CHAMBER 又称为超加速寿命试验机,是用于调查分析何时出现电子元器件和机械零件的摩耗和使用寿命的问题的试验设备,其目的是提高环境应力与工作应力、加快试验过程缩短产品或系统的寿命试验时间。 用于 PCB、LCD Board、电池、电容、电阻、IC 半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件及其它电子零件之高温

zonglen冷热冲击试验箱 高低温冲击设备，三箱式冷热冲击试验箱是用来测试材料结构或复合材料，在瞬间下经高温、低温的连续环境下所能忍受的程度是仪器设备。三箱式冷热冲击试验箱分高温、放置样品及低温等三个箱体，测试高温时，高温箱门打开，低温箱门关闭。测试低温时，高温箱门关闭，低温箱门打开；有室温状态，便于取放样品；产品不移动，减少产品移动对产品造成的影响，可以接一些敏感电信号监测线；转换时间比较长。