zonglen 三温Chuck探针台卡盘，晶圆盘系统用于半导体晶圆的表征测试、建模、工艺开发、设计调试，去BUG或IC故障分析，具有所有主要分析探针台集成所需的性能和多功能性，三温Chuck高低温晶圆盘。

超高速高低温气流冲击机测试机 ThermoTST ATC860PLUS是一台精密的接触式高低温冲击机，具有更广泛的温度范围-75℃到+200℃，提供了很强的温度转换测试能力。

超高速高低温气流冲击机 冲击仪器 ThermoTST ATC860PLUS是一台精密的接触式高低温冲击机，具有更广泛的温度范围-75℃到+200℃，提供了很强的温度转换测试能力。

高低温热流仪冷热循环冲击 气流测试仪器 ThermoTST ATC860PLUS是一台精密的接触式高低温冲击机，具有更广泛的温度范围-75℃到+200℃，提供了很强的温度转换测试能力。

BiasHAST半导体Chiller高加速试验，评估系统,绝缘电阻劣化评估系统是一种信赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压，经过长时间的测试（1～1000小时）并观察线路是否有瞬间短路的现象发生，并记录电阻值变化状况，故又叫做CAF试验，绝缘阻力电阻试验，我们将其统称为绝缘劣化试验，可进行BHAST试验。

BiasHAST高加速老化测试高低温冲击机，评估系统,绝缘电阻劣化评估系统是一种信赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压，经过长时间的测试（1～1000小时）并观察线路是否有瞬间短路的现象发生，并记录电阻值变化状况，故又叫做CAF试验，绝缘阻力电阻试验，我们将其统称为绝缘劣化试验，可进行BHAST试验。