ATC860E桌面式快速温变试验机 接触式 ThermoTST ATC860E通过接触头与 DUT之间直接接触，将DUT的温度(壳温 或者结温)调整到目标温度点进行相应的 性能测试。同时适用于已焊接的芯片和 使用socket 的芯片，可以真正做到只控 制待测芯片温度而不影响外围电路，排 除外围电路引起的不确定性。

高低温测试箱应用ATC860PLUS 接触式冲击机 ThermoTST ATC860 PLUS通过接触头 与DUT 之间直接接触，将DUT的温度(壳 温或者结温)调整到目标温度点进行相应 的性能测试。同时适用于已焊接的芯片 和使用socket 的芯片，可以真正做到只 控制待测芯片温度而不影响外围电路， 排除外围电路引起的不确定性。

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集成电路IC芯片温度冲击测试机ATC840 温度控制单元具有高功率和高灵活性的特点，可以通过定制来适应不同的芯片 封装和接口。该系统允许对各种功率、尺寸和类型的芯片施加温度，无论是使 用 Socket 还是已经焊接到PCB 上的芯片。