偏压老化测试|三温测试台|桌面式高低温测试仪器-成都中冷低温科技有限公司

RECOMMDEDED

推荐产品

气流仪微处理器芯片高低温测试

气流仪微处理器芯片高低温测试，Thermo TST 是一台精密的高低温冲击气流仪，具有更guan泛的温度范围-80℃到+225℃，提供了很强的温度转换测试能力。温度转换从-55℃到+125℃之间转换约...

查看详情立即咨询

zonglen接触式桌面式高低温测试仪

zonglen接触式桌面式高低温测试仪，接触式高低温设备是针对芯片可靠性测试而研发的专用设备，通过测试头与待测器件直接贴合的方式实现能量传递，与传统气流式高低温设备（热流仪、温箱等）相比具有升降温效...

查看详情立即咨询

太阳能模块HAST高加速老化寿命试验解决方案

太阳能模块HAST高加速老化寿命试验解决方案，CAF测试系统 HAST高加速寿命试验箱，CAF测试也叫离子迁移测试，CAF测试是一种用于评估材料中离子迁移性质的实验方法。该测试通常用于检测包装材料、食...

查看详情立即咨询

冲击试验箱导通电阻测试系统方案

冲击试验箱导通电阻测试系统方案，本系统针对 PCB 通路电阻测试中阻值低、测试精度高的要求，克服了手工测量过程中可能出现的干扰、不稳定等技术问题，实现了对 PCB 多通道低阻测试的解决方案。本系统不...

查看详情立即咨询

卡盘zonglen三温Chuck探针台卡盘

卡盘zonglen三温Chuck探针台卡盘，晶圆盘系统用于半导体晶圆的表征测试、建模、工艺开发、设计调试，去BUG或IC故障分析，具有所有主要分析探针台集成所需的性能和多功能性，三温Chuck高低温晶...

查看详情立即咨询

zonglen三温液冷机ZL-20A替代ATS DEX-20A

zonglen三温液冷机ZL-20A替代ATS DEX-20A，Chiller ZL-20A是一台对循环液进行温度控制并输出冷热液的装置。具有温度稳定性高、温度范围广、故障自诊断、外部通信等丰富功能。...

查看详情立即咨询

B-HAST高加速老化偏压老化测试系统

B-HAST高加速老化偏压老化测试系统，评估系统,绝缘电阻劣化评估系统是一种信赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压，经过长时间的测试（1～1000小时）并观察线路是否有瞬间短路的现象...

查看详情立即咨询

zonglen推出桌面型高低温冲击热流仪

zonglen推出桌面型高低温冲击热流仪，接触式高低温设备是针对芯片可靠性测试而研发的专用设备，通过测试头与待测器件直接贴合的方式实现能量传递，与传统气流式高低温设备（热流仪、温箱等）相比具有升降温...

查看详情立即咨询

Thermo Plate微型冷热台

Thermo Plate微型冷热台，高低温冷热台是一种突破性的产品，每个系统包含可定制化的冷热板(台）和一个单独的温度控制单元；系统直接采用机械制冷，用于各种组件的主动冷却和加热，不再需要额外的冷却器...

查看详情立即咨询

Gas chiller 高低温液体冷却机Chiller

Gas chiller 高低温液体冷却机Chiller，主要用于半导体制程中对反应腔室温度的精准控制，主要由热交换器、循环泵、压缩机和控制系统构成的一个自我平衡的循环装置，属于生产过程中的温控设备。在...

查看详情立即咨询

紧凑型超低温制冷机COOL1000 Series

紧凑型超低温制冷机COOL1000 Series，COOL1000系列是一台紧凑的高效制冷系统，可以为各种应用提供高效率和可靠性。COOL1000系列由压缩机单元、两根无霜的冷却剂输送管和一个带法兰的...

查看详情立即咨询

zonglen两箱式冷热冲击试验箱

zonglen两箱式冷热冲击试验箱，冷热冲击试验机Thermo TST TS780是一台精密的高低温冲击气流仪，具有更guan泛的温度范围-80℃到+225℃，提供了很强的温度转换测试能力。温度转换从...

查看详情立即咨询

ABOUT US

关于我们

成都中冷低温科技有限公司总部位于中国成都，是一家专业的泛半导体高低温智能装备企业，下设制冷事业部和半导体事业部。先后获得国家高新技术企业、专精特新企业、科技型企业、欧盟CE认证企业、ISO9001国际质量管理体系认证企业、知识产权贯标认证企业等多项认证和荣誉。中冷低温主要生产超低温制冷机、高低温冲击气流仪（ThermoTST热流仪）、接触式高低温冲击机（ATC/TCU）、三温液冷机(Chiller)、高加速寿命试验箱（BHAST/UHAST）、晶圆卡盘（ThermoChuck）、快速温变箱、温度冲击箱等，为晶圆、芯片、光通信、汽车电子、激光、集成电路、航空航天、天文探测、电池包、氢能源、移动储能等领域的制造和测试过程中提供整套温度环境解决方案。中冷低温已向超过15个国家提供产品和服务，服务网点遍布全国，在北京、上海、苏州、昆山、深圳、西安、武汉、重庆设有办事处。

查看详情

TECHNICAL ARTICLE

技术文章

2026
2-9

高低温气流冲击系统的快速温变机制揭秘

高低温气流冲击系统的快速温变核心是双区独立蓄能+高速气流冲击+快速切换+精准闭环控制，通过冷热区快速切换与高效对流换热，实现10–60秒级的剧烈温变，广泛用于电子、汽车、航空航天等领域的可靠性测试。以下从核心机制、关键技术、系统协同与应用要点展开，揭秘其快速温变的底层逻辑。一、核心机制：双区蓄能与气流快速切换快速温变的基础是“双区独立控温+气流瞬时切换”，通过物理隔离的高温区、低温区与测试区，配合高速气流循环与阀门快速切换，实现热量的瞬时传递。1.双区独立蓄能-高温区：采用镍...
2026
1-14

HTOL测试中样品数量77颗的由来

在半导体可靠性测试领域，尤其是HTOL（高温工作寿命测试）中，77颗样品数量是基于统计学原理、行业标准实践和成本效益精密权衡后得出的“黄金数字”。其核心原因在于：在“零失效”的前提下，用合理的成本证明芯片达到了可靠性目标（通常是极低的FIT率），并拥有较高的统计置信度。1.统计学的根源：卡方分布与置信度HTOL的目标是验证芯片在预期寿命内的失效率极低。由于测试时间和样本量有限，无法实测出真实的MTTF，只能通过统计推断估算MTTF的置信下限。常用的方法是使用卡方分布（Chi-...
2026
1-14

中冷低温HAST老化试验箱应用于IC芯片老化测试

芯片老化试验是一种对芯片进行长时间运行和负载测试的方法，以模拟芯片在实际使用中的老化情况。芯片老化试验的目的是评估芯片在长时间使用和负载情况下的可靠性和性能稳定性，以确定其寿命和可靠性指标。芯片老化测试方案设计：-选择适当的测试负载：根据芯片的应用场景和预期使用条件，确定合适的测试负载，包括电压、频率、温度等参数。-设计测试持续时间：根据芯片的预期使用寿命和应用场景，确定测试持续时间，通常为数小时至数千小时不等。-确定测试环境：确定测试环境，包括温度、湿度等环境条件，以模拟实...
2026
1-14

高低温热流仪的低温主要应用在哪些领域？

冷低温研发生产的高低温热流仪以速度、精度和可靠性作为基本设计的标准，能提供了很强的温度测试能力。温度转换从-55℃到+125℃之间转换约10秒，并有更广泛的温度范围-90℃到+225℃；经长期的多工况验证，能满足更多生产环境和工程环境的要求。高低温热流仪是纯机械制冷，无需液氮或任何其他消耗性制冷剂。高低温热流仪在科研中扮演着至关重要的角色，其主要功能是提供并维持一个稳定、纯净的低温环境，这对于研究物质在低温下的独特性质和行为至关重要。以下是一些主要的应用领域：1.材料科学低温...
2026
1-14

深硅刻蚀技术在MEMS、3D NAND等领域的应用

深硅刻蚀技术是半导体制造领域实现高深宽比三维结构加工的核心工艺，广泛应用于晶体管、存储电容等器件核心结构及MEMS制造。其技术体系以干法刻蚀为主导，通过等离子体物理轰击与化学反应协同作用，实现硅材料的高精度各向异性加工，其中深反应离子刻蚀（DRIE）技术因可达成40:1以上深宽比及90°±1°侧壁垂直度，成为微细结构加工的关键解决方案。技术原理上，主流DRIE工艺分为博世工艺与低温工艺两类。深硅刻蚀技术的主要应用领域：1）MEMS器件：深硅刻蚀技术是MEMS器件...
2025
6-6

HAST 96h vs 双85 1000h：湿热可靠性测试严苛度深度解析

测试目的相同：两者都旨在评估电子产品（尤其是半导体器件、PCB、封装材料等）在高温高湿环境下的可靠性，模拟长期使用或储存条件，暴露材料退化、腐蚀、分层、电迁移等失效。加速机制不同：HAST(HighlyAcceleratedStressTest)：条件：通常是121°C,100%RH(相对湿度),2atm(约202.6kPa)JUE对压力。高压是关键。加速原理：高压显著提高了水蒸气在材料内部的饱和蒸汽压和渗透率/扩散率。水分能更快、更深地侵入封装体内部、材料界面和各种微观缺陷...